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Microscopio Stm Y Afm


Enviado por   •  26 de Febrero de 2015  •  248 Palabras (1 Páginas)  •  290 Visitas

En la microscopía de fuerza atómica (AFM) una sonda puntiaguda extremadamente fina barre la superficie de la muestra registrándose las fuerzas de la interacción que hay entre la punta y la muestra cuando se encuentran muy próximas.

Cualquier interacción que se produzca entre la punta y la muestra puede dar lugar a un tipo de microscopía, así se pueden obtener imágenes que corresponden a topografía, fase, conductividad superficial, campos magnéticos, fuerzas laterales, potencial en la superficie, etc.

Dado que estos parámetros de interacción decaen rápidamente con la distancia, es necesario que la separación entre la punta y la muestra sea del orden o inferior al nanómetro lo que proporciona una altísima resolución.

Se distinguen dos modos de trabajo: Manteniendo la interacción punta-muestra constante o manteniendo la distancia punta-muestra constante. Además se puede trabajar en modo contacto, no-contacto o contacto intermitente. Se pueden hacer medidas en diferentes medios: aire, líquido, vacío, atmósfera controlada, etc.

En la microscopía de efecto túnel (STM) se mide la corriente eléctrica que aparece entre la punta y la muestra cuando se aplica una diferencia de potencial entre ambas. Cuando la punta se encuentra a unos 10 Å de la muestra, los electrones fluyen hacia la punta por efecto túnel, o viceversa, según el signo del voltaje aplicado. Para que esto suceda es necesario que la muestra sea conductora o semiconductora.

La imagen obtenida corresponde a la densidad electrónica de los estados de la superficie.

En la microscopía de fecto túnel se pueden obtener imágenes con resolución por debajo del angstrom.

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