Nanometrology of an ultraprecision machined surface by using optical sensors.
Enviado por rafael villaescusa • 12 de Septiembre de 2017 • Tareas • 903 Palabras (4 Páginas) • 201 Visitas
UNIVERSIDAD DE SONORA
DIVISIÓN DE INGENIERÍA INDUSTRIAL
DEPARTAMENTO DE INGENIERÍA INDUSTRIAL
INGENIERÍA INDUSTRIAL Y DE SISTEMAS
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MATERIA:
INSTRUMENTACIÓN Y METROLOGÍA
ALUMNO:
VILLAESCUSA MENDOZA JESUS RAFAEL
MAESTRO:
LUEQUE MORALES RAMÓN ALBERTO
RESUMEN:
NANOMETROLOGÍA
16/02/2017
INTRODUCCIÓN.
El siguiente trabajo fue hecho como tarea para la materia de Instrumentación y Metrología, impartida en el sexto semestre de la Ingeniería Industrial y de sistemas. La investigación se llevó a cabo en la base de datos de la biblioteca digital de la universidad de Sonora. El objetivo es encontrar artículos arbitrados y recientes de los últimos 8 años, que hablen de diversos temas relacionados con la metería de Metrología, en este caso se hablara sobre la Nanometrología. Para realizar las citas se utilizó el estilo IEEE. El propósito a continuación es conocer lo que es la nanometrología y algunas de sus herramientas y métodos de medición, así como también relacionarnos e interactuar con la biblioteca digital y aprender a utilizarla. Hice distintas observaciones y datos para así poder llegar a discernir un poco más y tener un mayor conocimiento del tema.
Los nombres de los artículos consulados son:
- Nano-metrology between necessity and reality.
- Nanometrology of deformations by temperature in metallic materials.
- Nanometrology of an ultraprecision machined surface by using optical sensors.
DESARROLLO.
El centro español de metrología define Nanotecnología como: La Ciencia de la medida en la nano escala. Juega un papel crucial en la caracterización de nano materiales y nano dispositivos con exactitud y fiabilidad.
El microscopio es una de las principales herramientas para medir cosas muy pequeñas y se está utilizando en la industria cada vez más como herramienta de metrología, por lo que demanda una gran precisión en estos instrumentos.
Para medir a escala nanométrica se necesita una tecnología de medición específica y muy exacta.
Actualmente no hay estándares de calibración a lo largo de toda la industria ni algún nivel de precisión que puede utilizarse para las herramientas de metrología. En su lugar, la industria se basa en varios esquemas de auto referencia que son inexactos, costoso, consume tiempo y son ineficaces.[1]
Interferómetros.
La medición por láser se lleva a cabo a través de la interferometría, una técnica que utiliza la longitud de onda de la luz como unidad de medida.
Los interferómetros láser proporcionan la mejor solución para la realimentación de la posición que combina alta resolución, detección sin contacto, altas tasas de actualización y tiene una exactitud de 0,02 ppm (incertidumbre relativa 2 10-8) que resulta en un error de 1 nm. en 50 mm.
Un sistema de interferómetro mide la variación de la distancia contando el número de longitudes de onda de luz vista por la óptica del detector. A medida que la longitud de onda se conoce con gran precisión, entonces la distancia total se puede calcular a gran exactitud.
Los interferómetros láser se pueden dividir en dos categorías: el conteo de franjas y sistemas de dos frecuencias.
Un microscopio metrológico se calibra con un sistema de interferómetro láser 3D con precisión de rango nanométrico.[1]
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