Microscopía óptica
Enviado por josueluna725 • 20 de Febrero de 2024 • Tareas • 749 Palabras (3 Páginas) • 19 Visitas
UNIVERSIDAD TECNOLÓGICA DE XICOTEPEC DE JUÁREZ ACADEMIA DE MANTENIMIENTO INDUSTRIAL Y PETRÓLEO |
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NOMBRE DE LA CARRERA | CUATRIMESTRE | NOMBRE DE LA ASIGNATURA | TURNO |
INGENIERÍA EN MANTENIMIENTO ÁREA INDUSTRIAL | 7 | ENSAYOS DESTRUCTIVOS | SABATINO |
PRÁCTICA No. | LABORATORIO | NOMBRE DE LA PRÁCTICA | DURACIÓN |
2 | MANUFACTURA | INTERPRETAR EL ENSAYO METALOGRAFIO POR MEDIO DE MICROSCOPIA OPTICA, MICROSCOPIA ELECTRONICA DE BARRIDO, MICROSCOPIA ELECTRONICA DE TRANSMISION | 2 HORAS |
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Utilizando diversas técnicas de microscopía, como microscopía óptica, microscopía electrónica de barrido (SEM) y microscopía electrónica de transmisión (TEM), se puede obtener información detallada sobre la composición, fase, textura y otras propiedades microestructurales. |
- Escribir breve descripción de lo que trata la práctica, mínimo dos párrafos.
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Un ensayo metalográfico utilizando microscopía electrónica de barrido (SEM) y microscopía electrónica de transmisión (TEM) es una técnica avanzada que permite la evaluación detallada de la microestructura de materiales metálicos a escalas micro y nanométricas. En este proceso, una muestra del material se prepara mediante técnicas de pulido y grabado para revelar su estructura interna. La microscopía electrónica de barrido (SEM) proporciona imágenes de alta resolución de la superficie de la muestra, permitiendo la observación detallada de la topografía y morfología de la superficie. Además, la SEM posibilita el análisis de composición química mediante la detección de electrones secundarios y retrodispersados, ofreciendo información valiosa sobre la distribución de fases y la presencia de defectos superficiales. Por otro lado, la microscopía electrónica de transmisión (TEM) lleva la investigación a un nivel más profundo al permitir la observación de secciones ultrafinas de la muestra. Con la TEM, se pueden estudiar detalles a nivel atómico, incluyendo la visualización de dislocaciones, defectos cristalinos y la organización precisa de átomos en la estructura. Además, la TEM facilita la identificación de nanofases y la evaluación de la cristalinidad de los materiales. Ambas técnicas, SEM y TEM, se complementan entre sí para ofrecer una visión completa de la microestructura de los materiales metálicos, brindando información crítica para entender propiedades como la resistencia, la ductilidad y la conductividad. Este enfoque avanzado de análisis metalográfico es esencial para la investigación y desarrollo de materiales en diversas industrias, desde la ingeniería de materiales hasta la nanotecnología. |
- Escribir teoría, principio de funcionamiento, aplicaciones, etc. de los componentes o métodos utilizados en las prácticas, el número de párrafos depende de que tan compleja sea la práctica.
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