Metodología arcillas Microscopía electrónica de barrido
Enviado por Aline Hernández • 3 de Mayo de 2022 • Documentos de Investigación • 902 Palabras (4 Páginas) • 47 Visitas
La caracterización por Microscopía electrónica de barrido (SEM), se realizó en un SEM marca ZEIZZ modelo EVO MA10, con espectrómetro de rayos X de dispersión de energía (EDX) marca Bruker modelo Nano GmbH XFlash 610M. Esta última técnica se utilizó principalmente para el análisis de conglomerados encontrados en las arcillas. El análisis SEM-EDX se realizó en el modo High Definition Electron backscatter diffraction (HDBSD) para la obtención de imagen y análisis EDX, a un voltaje de 28 kV y una presión de vacío variable, en secciones con relieves homogéneos, para elementos semicuantitativos elementales, analizando 3 zonas por muestra con 10 puntos en cada una.
Estudio químico de los componentes aglutinantes. SEM-EDX
Análisis en el modo de electrones secundarios (SE) en pequeños.
piezas fueron utilizadas para observaciones microscópicas de la
Microestructura y textura de los componentes aglutinantes.
El análisis de microestructuras basado en SEM es posible debido a la existencia de un microrelieve
en la superficie de la muestra. Las imágenes SEM tienen una marcada profundidad de campo y una amplia gama de
medios tonos Como consecuencia, el ojo humano percibe esta imagen como algo espacial.
(pseudotreedimensional). La superficie de la muestra examinada debe ser uniforme, libre de abolladuras.
y elementos sobresalientes. Sólo entonces es posible obtener una imagen apropiada con distintos
Límites entre los elementos estructurales y el espacio poroso.
La selección de un método preparatorio adecuado depende principalmente del grado de litificación de
el sedimento Se debe prestar especial atención a la preparación de la superficie de cohesivo.
Suelos con alta porosidad y enlaces estructurales débiles. El método de "superficies acopladas" es
recomendado para el análisis cuantitativo basado en SEM de microestructuras, ya que permite la
Eliminación de observaciones microscópicas de poros falsos, como abolladuras o espacios después de grandes.
Granos o partículas. Se basa en el análisis de imágenes estructurales de ambas partes de la rotura.
muestra. En ese caso, al comparar las partes de la muestra, se reemplaza la imagen de un falso poro.
Por la imagen de la partícula sobre una superficie acoplada. En el caso de un poro real en ambas imágenes.
de la superficie acoplada se observa un campo oscuro en el microscopio. La parte más difícil de
La preparación de la muestra es su fractura apropiada que debe obtenerse sin ninguna pérdida.
de partículas de ambas superficies. Antes de romper la muestra se congela en nitrógeno líquido como el
la pérdida de partículas de las superficies de una muestra congelada durante la ruptura es prácticamente nula.
Las muestras fracturadas de esa manera se montan una al lado de la otra en el soporte.
El procedimiento más simple pero bastante efectivo es el rectificado y la limpieza de la superficie de la muestra. los
La sección transversal seleccionada se muele con papel abrasivo con un diámetro cada vez más pequeño del
Granos abrasivos. Que la superficie se someta a peelings con una cinta adhesiva muy resistente.
Varias veces pegadas y desprendidas de la superficie de la muestra. Finalmente la muestra se quita el polvo y
colocado en el soporte. Ocasionalmente, una superficie de muestra preparada de esa manera no es suficientemente
incluso. Cuanto más fino y equigranular sea el suelo, mejores serán los efectos de este procedimiento.
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