Castidad, Amor Y Noviazgo
Enviado por messicristiano • 2 de Octubre de 2013 • 1.540 Palabras (7 Páginas) • 419 Visitas
2 Gráficas de Control para Variables
2.1 Gráficas de Control para Variables
2.1.1 Conceptos generales y principios del CEP
Se utilizan tres métodos estadísticos principales para la mejora de la calidad y la solución de problemas: las cartas de control, el diseño de experimentos y el muestreo estadístico, además de las herramientas estadística para la solución de problemas en planta por grupos de trabajo o Círculos de calidad.
CARTAS DE CONTROL
En 1924 WALTER SHEWHART realizó experimentos y desarrolló las Cartas de Control en la planta telefónica Western Electric de los los Bell Labs, las cuales tienen las siguientes características:
• Técnicas útiles para el monitoreo de procesos
• Permiten identificar situaciones anormales en 6Ms
• Sirven para prevenir la generación de defectivos
La carta de control es una técnica muy útil para el monitoreo de los procesos, cuando se presentan variaciones anormales donde las medias o los rangos salen de los límites de control, es señal de que se debe tomar acción para remover esa fuente de variabilidad anormal. Su uso sistemático proporciona un excelente medio para reducir la variabilidad.
CAUSAS COMUNES Y CAUSAS ESPECIALES
La variabilidad natural siempre existe en cualquier proceso de producción, no importa que tan bien diseñado esté. Esta variabilidad natural es denominada causas comunes o aleatorias de variabilidad, un proceso que opera en estas condiciones se dice que está en control estadístico.
Existen otras fuentes de variabilidad que pueden ser causadas por máquinas, errores de operadores o materiales defectuosos. Esta variabilidad es muy grande en relación con la variabilidad natural y es originada por causas especiales o asignables haciendo que el proceso opere fuera de control estadístico.
Cuando el proceso está en control, la mayor parte de la producción se encuentra dentro de los límites de control (LSC y LIC). Sin embargo cuando el proceso está fuera de control, una gran proporción del proceso se encuentra fuera de estos límites.
El Objetivo del CEP es la detección oportuna de la ocurrencia de causas especiales para tomar acciones correctivas antes de que se produzcan unidades defectivas o no conformes, para esto se utilizan las cartas de control en línea, permitiendo también la estimación de la capacidad o habilidad del proceso y la reducción continua de la variabilidad hasta donde sea posible.
PROCESO DE LAS GRÁFICAS DE CONTROL
FÓRMULAS DE GRÁFICAS DE CONTROL
De otra forma:
Gráficas de Control por Atributo (Datos discretos)
Tipo Data Tamaño de Muestra Formula CL UCL LCL
p Piezas defec-tuosas Varia p=np/n p=Σnp/Σn p+3√p(1-P)/√n p-3√p(1-P)/√n
n=Σn/k
np Piezas defec-tuosas Constante p=np/n np=Σnp/k np+3√np(1-P) np-3√np(1-P)
c Defectos por Pieza Constante c c=Σc/k c+3√c c-3√c
u Defectos por Pieza Varia u=c/n u=Σc/Σn u+3√u/√n u-3√u/√n
CONSTANTES PARA GRÁFICAS DE CONTROL
En cartas X-R
n A2 D3 D4 d2
2 1.88 0 3.267 1.128
3 1.023 0 2.574 1.693
4 0.072 0 2.282 2.059
5 0.577 0 2.115 2.326
6 0.483 0 2.004 2.534
7 0.419 0.076 1.924 2.704
8 0.373 0.136 1.864 2.847
9 0.337 0.184 1.816 2.97
10 0.308 0.223 1.777 3.078
En cartas X-S
n c4 A A3 B3 B4 B5 B6 .
5 0.94 1.342 1.427 0 2.089 0 1.964
6 0.9515 1.225 1.287 0.03 1.97 0.029 1.874
7 0.9594 1..134 1.182 0.118 1.882 0.113 1.806
8 0.965 1.061 1.099 0.185 1.815 0.179 1.751
9 0.9693 1 1.032 0.239 1.761 0.232 1.707
10 0.9727 0.949 0.975 0.284 1.716 0.276 1.669
11 0.9754 0.905 0.927 0.321 1.679 0.313 1.637
12 0.9776 0.866 0.886 0.354 1.646 0.346 1.61
13 0.9794 0.832 0.85 0.382 1.618 0.374 1.585
14 0.981 0.802 0.817 0.406 1.594 0.399 1.563
15 0.9823 0.775 0.789 0.428 1.572 0.421 1.544
16 0.9835 0.75 0.763 0.448 1.552 0.44 1.526
17 0.9845 0.728 0.739 0.466 1.534 0.458 1.511
18 0.9854 0.707 0.718 0.482 1.518 0.475 1.496
19 0.9862 0.688 0.698 0.497 1.503 0.49 1.483
20 0.9869 0.671 0.68 0.51 1.49 0.504 1.47
21 0.9876 0.655 0.663 0.523 1.477 0.516 1.459
22 0.9882 0.64 0.647 0.534 1.466 0.528 1.448
23 0.9887 0.626 0.633 0.545 1.455 0.539 1.438
24 0.9892 0.612 0.619 0.555 1.445 0.549 1.429
25 0.9896 0.6 0.606 0.565 1.435 0.559 1.42
TAMAÑO DE MUESTRA Y FRECUENCIA DE MUESTREO
A saber, las dos alternativas siguientes dan un resultado similar:
Diseño 1 Diseño 2
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