Sistema Interamericano De Metrologias

INTRODUCCIÓN

El Sistema Interamericano de Metrología (SIM) es resultado de un amplio acuerdo entre organizaciones nacionales de metrología de todas las 34 naciones-miembro de la Organización de los Estados Americanos (OEA).

Creado para promover la cooperación internacional, en particular la interamericana y regional en metrología, el SIM es comprometido con la ejecución de un Sistema Global de la medición en las Américas, para que todos los usuarios puedan tener confianza.

La OEA (anteriormente denominada como Departamento de Asuntos Científicos y Tecnológicos, DACYT) se reunió en Buenos Aires (Argentina), en el Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI), en 1975, para la idealización de un proyecto especial en la área de metrología, enfocando la metrología Científica, Industrial y Legal.

En 1979, como parte de un proyecto especial en el área de la metrología, fue creado el Sistema Interamericano de Metrología (SIM), consistiendo en trece países Latino-Americanos. Muchas otras instituciones fuera de las Américas también contribuirían para la creación del SIM, tales como el Instituto de Metrología "Gustavo Colonnetti" (IMGC, Italia), Instituto Elettrotecnico Nazionale Galileo Ferraris (IEN, Italia) y Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB, Alemanha). El apoyo del PTB a muchas instituciones de metrología de la América Latina, a través de su programa técnico de cooperación, fue fundamental en la formación y en el desarrollo del SIM.

Misión

Promover y apoyar una infraestructura de medición integrada en las Américas para que los miembros de los Institutos Nacionales de Metrología (INM) puedan cumplir su misión de participar efectivamente en la comunidad internacional de Metrología.

Visión

Ser una organización regional de metrología representativa, transparente, competente y reconocida a nivel mundial comprometida a asegurar la uniformidad de las mediciones y al mismo tiempo promover la cooperación entre sus miembros.

Objetivos:

1. Elevar los patrones de la metrología básica en cada país en el hemisferio.

2. Contribuir para la infraestructura en el área de la medición, requerida para promover la igualdad en transacciones comerciales.

3. Promover la competitividad y la calidad en el sector industrial con la finalidad de promover transacciones comerciales.

4. Identificar los sectores y las instituciones que puedan conducir actividades multinacionales específicas en el apoyo a la metrología.

5. Contribuir para la infraestructura metrológica requerida para proteger el medio ambiente, para controlar el uso acelerado de recursos y para promover el bienestar general de la población, incluyendo sus saludes y seguridad.

El Sistema Interamericano de Metrología (SIM), es un acuerdo internacional entre los Institutos Nacionales de Metrología o las Organizaciones responsables por los patrones nacionales de medida de los Países Miembros de la Organización de Estados Americanos, con el objetivo de promover la cooperación regional e internacional, para contribuir al perfeccionamiento de las actividades en las áreas de la metrología científica, industrial y legal. A tal efecto, las acciones a realizar por los miembros tenderán a lograr:

a) el establecimiento de los sistemas nacionales de medición de cada país y región.

b) el establecimiento de la línea jerárquica de patrones de cada país y su enlace con los patrones regionales e internacionales.

c) la compatibilidad de los resultados de procesos de medición correspondientes, efectuados en los laboratorios del sistema.

d) la formación de personal experto técnico y científico.

e) la obtención y distribución de documentos técnicos y científicos.

f) una fuerte vinculación con la Oficina Internacional de Pesas y Medidas (Bureau International des Poids et Messures, BIPM), la Organización Internacional

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