Planes De Muestreo

PLANES DE MUESTREO

CONCEPTOS, FUNDAMENTOS, TIPOS DE MUESTREO Y NOTACIÓN SIMBÓLICA.

Muestreo para aceptación

La inspección de materias primas, productos semiterminados o productos terminados es parte importante del

aseguramiento de la calidad. Cuando el propósito de la inspección es la aceptación o el rechazo de un

producto, con base en la conformidad respecto a un estándar, el tipo de procedimiento de inspección que se

utiliza se llama normalmente muestreo por aceptación.

El muestreo por aceptación es muy probablemente útil en las situaciones siguientes:

· Cuando la prueba es destructiva.

· Cuando es muy alto el costo de una inspección al 100%.

· Cuando una inspección al 100% no es tecnológicamente factible.

Cuando hay que inspeccionar muchos artículos y la tasa de errores de inspección es suficientemente alta

para una inspección al 100%.

·

Cuando el proveedor tiene un excelente historial de calidad, y se desea alguna reducción en la inspección al

100%.

·

Ventajas:

· Por lo general es menos costoso, pues requiere menos inspección.

· Hay un menor manejo del producto y por tanto se reducen los daños.

· Puede aplicarse en el caso de pruebas destructivas.

· Hay menos personal implicado en las actividades de inspección.

· Reduce notablemente la cantidad de errores de inspección.

Desventajas:

· Existe el riesgo de aceptar lotes malos y rechazar lotes buenos.

· Se genera menos información sobre el producto o el proceso de fabricación del producto.

· Necesita planeación y documentación del procedimiento de muestreo.

Tipos de planes de muestreo.

La primera clasificación de los planes de muestreo para aceptación podría ser la distinción entre planes de

muestreo por atributos y planes de muestreo por variables dependiendo del tipo de característica de calidad

que se mida. Las variables son características de calidad que se miden en una escala numérica y los atributos

son características de calidad que se expresan en forma de aceptable o no aceptable.

MUESTREO DE ACEPTACIÓN POR ATRIBUTO.

Muestreo de Aceptación por Atributos.

El plan de muestreo por atributos (n,c) consiste en inspeccionar muestras aleatorias de n unidades tomadas de

lotes de tamaño N, y observar el número de artículos disconformes o defectuosos d en las muestras. Si el

número de artículos defectuosos d es menor que o igual a c, se aceptara el lote, si el número de dichos

artículos defectuosos d es mayor que c se rechazara el lote.

Muestreo simple.

Un plan de muestreo simple es un procedimiento en el que se toma una muestra aleatoria de n unidades del

lote para su estudio y se determina el destino de todo el lote con base en la información contenida en la

muestra.

Consiste en extraer una muestra aleatoria de n unidades de una corrida o lote original e inspeccionarla sobre

las bases de aceptación o rechazo para encontrar c o menos unidades defectuosas. La curva característica de

operación demuestra la bondad con que funciona el programa de muestreo. En este curva se representan las

probabilidades de aceptación, Pa, contra la proporción de unidades p, supuesta para los lotes de entrada.

Dichas proporciones y los riesgos de aceptación o rechazo que implican se deducen de la naturaleza de la

curva CO y con ello se determina el programa de muestreo simple que cubre las especificaciones deseadas.

Muestreo doble.

Un plan de muestro doble tiene dos fases. En la primera fase se selecciona una muestra inicial y se toma una

decisión basada en la información de esta muestra. Esta decisión puede llevar a tres alternativas: aceptar el

lote, rechazar el lote o tomar una segunda muestra. Si se toma esta ultima estamos ante la segunda fase, y se

combina la información de ambas muestras para decidir sobre la aceptación o el rechazo del lote.

Etapa 1. Para un determinado riesgo del productor y del consumidor, encuéntrese el programa de muestreo

adecuado.

Etapa 2. Selecciónese cualquier valor de c2 > c1 del programa de muestreo simple.

Etapa 3. Selecciónese cualquier valor de c1 de tal manera que 0<c1 <c.

Etapa 4. Con base en el valor seleccionado de c1, encuentre n1 de tal manera que n1 multiplicado por el NAC

de cómo resultado una probabilidad menor (pero cercana) a 1.0 RP, y el producto de n1 por el PDTL de cómo

resultado una probabilidad menor (pero cercana) a RC.

Etapa 5. Seleccione n2 de tal manera que se satisfagan diferencias entre la probabilidad n1 (NAC) y 1.0−RP y

entre la probabilidad n1 (PDTL) y RC.

Muestreo múltiple.

Un plan de muestre múltiple es una extensión del concepto de muestreo doble a varias fases en el que

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